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UniversidaddeCádiz
Instituto Universitario de Investigación en Microscopía Electrónica y Materiales IMEYMAT

Microscopio de Fuerza Atómica (AFM)

Microscopio de Fuerza Atómica (AFM)

Descripción de la infraestructura

Microscopio de Fuerza Atómica (AFM)

 

Servicios que se ofertan actualmente y posibles aplicaciones en otros campos

Topografía en  modo contacto y contacto intermitente para la obtención de imágenes 3D de superficies mediante microscopía de fuerza atómica (AFM), microscopía de fuerza magnética (MFM) y microscopía térmica de barrido (SThM), con resolución nanométrica (hasta 5 um  en resolución vertical y hasta 100 um x 100 um en cuanto a tamaño del barrido). Determinación de rugosidad de superficies en este rango dimensional. Determinación de tamaño y forma de estructuras de tamaño nanométrico, con límite inferior determinado por el tamaño de la sonda empleada (mínimo 2 nm). Determinación y localización de objetos nanométricos magnéticos situados sobre una superficie de un material no magnético, mediante MFM. Determinación de tamaño y forma de regiones de diferente conductividad térmica en una superficie de baja rugosidad, mienta SThM. Además, se pueden emplear estas técnicas para el estudio de sistemas biológicos (células, estructuras celulares, macromoléculas, etc.) siempre que estos entes puedan ser depositados sobre un soporte plano (vidrio, mica, etc) y que su tamaño no exceda de los límites del equipo.

 

 

*Las tarifas excluyen el precio de las puntas de AFM. El usuario podrá aportar sus propias puntas, siempre que sean compatibles con el microscopio y la técnica o modo de trabajo requerido. Alternativamente, las puntas necesarias para la realización de los experimentos podrán ser adquiridas en el propio SPI (sujeta a disponibilidad). En este caso, las puntas quedarían en posesión del usuario, previo pago de su coste. Como orientación, se indican a continuación algunos precios de puntas ofertados por el fabricante del microscopio (Bruker) para distintos modos de trabajo:

 

 

Para otros tipos de puntas de prestaciones mejoradas o para otros modos de trabajo avanzados, se deben consultar los precios de adquisición de las sondas previamente al técnico o al responsable científico del servicio periférico.

 

Es necesario para su uso un técnico:  no.  Dispone de técnico: no.

Se considerará usuario autónomo a aquel que haya completado con éxito el curso de entrenamiento ofertado por el SPI AFM/STM. Este curso de entrenamiento tiene un coste de 100 €.

 

Observaciones

Se considera  que una sesión media de trabajo suele tener una duración aproximada  de 3h. El resultado final de una sesión será siempre una imagen o conjunto de imágenes de la superficie de la muestra estudiada. El informe técnico, que puede solicitarse adicionalmente, incluirá la interpretación del responsable del equipo de las imágenes obtenidas durante la sesión, proporcionando datos como la rugosidad, el tamaño de las estructuras que presente, etc.